标准编号：GB/T 26068-2018

中文名称：硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

英文名称：Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method

发布日期：2018-12-28

实施日期：2019-11-01

代替标准：GB/T 26068-2010

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：