标准编号：GB/T 36613-2018

中文名称：发光二极管芯片点测方法

英文名称：Probe test method for light emitting diode chips

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：