标准编号：GB/T 4937.30-2018

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

代替标准：

标准类别：

采标号：IEC 60749-30:2011

采标名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：