标准编号：GB/T 36477-2018

中文名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法

英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

发布日期：2018-06-07

实施日期：2019-01-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：