标准编号：GB/T 32651-2016

中文名称：采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

英文名称：Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry

发布日期：2016-04-25

实施日期：2016-11-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：