标准编号：GB/T 32188-2015

中文名称：氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

英文名称：The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate

发布日期：2015-12-10

实施日期：2016-11-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：