标准编号：GB/T 30453-2013

中文名称：硅材料原生缺陷图谱

英文名称：Metallographs collection for original defects of crystalline silicon

发布日期：2013-12-31

实施日期：2014-10-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：