• GB/T 35010.5-2018

    标准中文名:半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35009-2018

    标准中文名:串行NAND型快闪存储器接口规范

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35008-2018

    标准中文名:串行NOR型快闪存储器接口规范

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35007-2018

    标准中文名:半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35004-2018

    标准中文名:数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35010.6-2018

    标准中文名:半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35010.4-2018

    标准中文名:半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35010.8-2018

    标准中文名:半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35006-2018

    标准中文名:半导体集成电路 电平转换器测试方法

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01

  • GB/T 35003-2018

    标准中文名:非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

    发布日期:2018-03-15

    实施日期:2018-08-01